Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej Politechnika Warszawska Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej Politechnika Warszawska

Skip to main content

Pomiary metodą dyfrakcji rentgenowskiej na materiałach polikrystalicznych

Katedra Chemii Nieorganicznej

Pracownia Badań Strukturalnych

Wyposażenie pracowni:

  • Dyfraktometr rentgenowski BRUKER D8 ADVANCE
  • Dyfraktometr rentgenowski HZG-4 firmy Seifert GmbH

Możliwości pomiarowe:

  • Dyfraktometria proszkowa w geometrii Bragga-Brentano oraz w układzie wiązki równoległej (pomiary cienkich warstw).
  • Pomiary dyfrakcyjne do fazowej analizy jakościowej i analizy ilościowej oraz do szacowania wielkości krystalitów.
  • Precyzyjne pomiary obrazów dyfrakcyjnych do wyznaczania parametrów komórki elementarnej oraz do rozwiązywania i udokładniania struktur krystalicznych.

Koszty pomiarów:

  • Jednostki wewnętrzne
    Koszt standardowego pomiaru (<1h pracy aparatu)
    70zł netto
  • Jednostki zewnętrzne
    Koszt standardowego pomiaru (<1h pracy aparatu)
    150zł netto

W przypadku pomiarów niestandardowych (np. przy krótkich/długich czasach zliczania lub niestandardowych zakresach pomiarowych) oraz większej ilości próbek cena ustalana jest indywidualnie ze zleceniodawcą.

Kontakt:
dr inż. Andrzej Ostrowski
e-mail: ostry@ch.pw.edu.pl
ul. Noakowskiego 3, pok. 111
00-664 Warszawa

Wirtualna wycieczka

1. Miejsce wśród kierunków
Biotechnologia oraz
Technologia Chemiczna
(nieprzerwanie od 2012 roku)