Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej Politechnika Warszawska Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej Politechnika Warszawska

Skip to main content

Pomiary metodą dyfrakcji rentgenowskiej na materiałach polikrystalicznych

Katedra Chemii Nieorganicznej i Technologii Ciała Stałego

Pracownia Badań Strukturalnych

Wyposażenie pracowni:

  • Dyfraktometr rentgenowski BRUKER D8 ADVANCE
  • Dyfraktometr rentgenowski HZG-4 firmy Seifert GmbH

Możliwości pomiarowe:

  • Dyfraktometria proszkowa w geometrii Bragga-Brentano oraz w układzie wiązki równoległej (pomiary cienkich warstw).
  • Pomiary dyfrakcyjne do fazowej analizy jakościowej i analizy ilościowej oraz do szacowania wielkości krystalitów.
  • Precyzyjne pomiary obrazów dyfrakcyjnych do wyznaczania parametrów komórki elementarnej oraz do rozwiązywania i udokładniania struktur krystalicznych.

Koszty pomiarów:

  • Jednostki wewnętrzne
    Koszt standardowego pomiaru (<1h pracy aparatu)
    70zł netto
  • Jednostki zewnętrzne
    Koszt standardowego pomiaru (<1h pracy aparatu)
    150zł netto

W przypadku pomiarów niestandardowych (np. przy krótkich/długich czasach zliczania lub niestandardowych zakresach pomiarowych) oraz większej ilości próbek cena ustalana jest indywidualnie ze zleceniodawcą.

Kontakt:
dr inż. Andrzej Ostrowski
e-mail: ostry@ch.pw.edu.pl
ul. Noakowskiego 3, pok. 111
00-664 Warszawa

Wirtualna wycieczka

1. Miejsce wśród kierunków
Biotechnologia oraz
Technologia Chemiczna