Skaningowy Mikroskop Elektronowy

Oferta badawcza

• Analizy morfologii i topografii powierzchni materiałów, analizy wielkości cząstek, porów i grubości powłok o rozmiarach mikro i nanometrycznych w tym wykonywanie zdjęć powierzchni ciał stałych (TIFF, BMP, JPEG);
• Jakościowa i półilościowa analiza składu chemicznego przy użyciu spektrometru dyspersji energii wtórnego promieniowania X (EDS) prowadzona w punkcie, po zadanej linii oraz z zadanych obszarów. Możliwość wykonania rozkładu powierzchni pierwiastków (tzw. mapping) z danego obszaru. Analizy chemiczne pierwiastków w próbkach począwszy od boru do końca układu okresowego.
    

Skaningowy Mikroskop Elektronowy PRISMA E (Thermo Fisher Scientific) z mikroanalizatorem rentgenowskim EDS

• możliwość obserwacji powierzchni materiałów w systemie detekcji elektronów wtórnych (SE) i elektronów wstecznie rozproszonych (BSE);
• max. zdolność rozdzielcza 3 nm;
• napięcie przyspieszające 200 V–30 KV;
• powiększenia do ok. 100 000 X.

Trzy tryby pracy mikroskopu:

• wysoka próżnia – badania materiałów przewodzących np.: metali i ich stopów;
• niska próżnia – badania materiałów nieprzewodzących np.: ceramika, polimery oraz materiały organiczne;
• tryb środowiskowy ESEM – badanie preparatów wilgotnych, biologicznych, oraz takich, które zawierają substancje lotne lub oleiste.
    

Osoba wykonująca badania

dr inż. Elżbieta Żero
elzbieta.zero@pw.edu.pl
tel. +48 22 234 79 74
ul. Noakowskiego 3, pok. 25e
00-664 Warszawa