Pomiary metodą dyfrakcji rentgenowskiej na materiałach polikrystalicznych

Wyposażenie pracowni:

• Dyfraktometr rentgenowski BRUKER D8 ADVANCE
• Dyfraktometr rentgenowski HZG-4 firmy Seifert GmbH

Możliwości pomiarowe:

• Dyfraktometria proszkowa w geometrii Bragga-Brentano oraz w układzie wiązki równoległej (pomiary cienkich warstw).
• Pomiary dyfrakcyjne do fazowej analizy jakościowej i analizy ilościowej oraz do szacowania wielkości krystalitów.
• Precyzyjne pomiary obrazów dyfrakcyjnych do wyznaczania parametrów komórki elementarnej oraz do rozwiązywania i udokładniania struktur krystalicznych.

Koszty pomiarów:

• Jednostki wewnętrzne
  Koszt standardowego pomiaru (<1h pracy aparatu)
  70zł netto
• Jednostki zewnętrzne
  Koszt standardowego pomiaru (<1h pracy aparatu)
  150zł netto

W przypadku pomiarów niestandardowych (np. przy krótkich/długich czasach zliczania lub niestandardowych zakresach pomiarowych) oraz większej ilości próbek cena ustalana jest indywidualnie ze zleceniodawcą.

Kontakt:
dr inż. Andrzej Ostrowski
e-mail: andrzej.ostrowski@pw.edu.pl
ul. Noakowskiego 3, pok. 111
00-664 Warszawa