Skaningowy Mikroskop Elektronowy

Analizy morfologii i topografii powierzchni materiałów, analizy wielkości cząstek, porów i grubości powłok o rozmiarach mikro i nanometrycznych w tym wykonywanie zdjęć powierzchni ciał stałych (TIFF, BMP, JPEG);
Jakościowa i półilościowa analiza składu chemicznego przy użyciu spektrometru dyspersji energii wtórnego promieniowania X (EDS) prowadzona w punkcie, po zadanej linii oraz z zadanych obszarów. Możliwość wykonania rozkładu powierzchni pierwiastków (tzw. mapping) z danego obszaru. Analizy chemiczne pierwiastków w próbkach począwszy od boru do końca układu okresowego.

możliwość obserwacji powierzchni materiałów w systemie detekcji elektronów wtórnych (SE) i elektronów wstecznie rozproszonych (BSE);
max. zdolność rozdzielcza 3 nm;
napięcie przyspieszające 200 V–30 KV;
powiększenia do ok. 100 000 X.

Trzy tryby pracy mikroskopu:

wysoka próżnia – badania materiałów przewodzących np.: metali i ich stopów;
niska próżnia – badania materiałów nieprzewodzących np.: ceramika, polimery oraz materiały organiczne;
tryb środowiskowy ESEM – badanie preparatów wilgotnych, biologicznych, oraz takich, które zawierają substancje lotne lub oleiste.