Skaningowy Mikroskop Elektronowy

Oferta badawcza:

• Analizy morfologii i topografii powierzchni materiałów, analizy wielkości cząstek, porów i grubości powłok o rozmiarach mikro i nanometrycznych w tym wykonywanie zdjęć powierzchni ciał stałych (TIFF, BMP, JPEG);
• Jakościowa i półilościowa analiza składu chemicznego przy użyciu spektrometru dyspersji energii wtórnego promieniowania X (EDS) prowadzona w punkcie, po zadanej linii oraz z zadanych obszarów. Możliwość wykonania rozkładu powierzchni pierwiastków (tzw. mapping) z danego obszaru. Analizy chemiczne pierwiastków w próbkach począwszy od boru do końca układu okresowego.

 Skaningowy Mikroskop Elektronowy Quanta 200 (FEI) z mikroanalizatorem rentgenowskim EDS

Opis urządzenia:

Możliwość obserwacji powierzchni materiałów w systemie detekcji elektronów  wtórnych (SE) i elektronów wstecznie rozproszonych (BSE); Max. zdolność rozdzielcza 3 nm; napięcie przyspieszające 200 V – 30 KV; powiększenia do ok. 100 000 X .

Trzy tryby pracy mikroskopu:

• wysoka próżnia -badania materiałów przewodzących np.: metali i ich stopów;
• niska próżnia -badania materiałów nieprzewodzących np.: ceramika, polimery oraz materiały organiczne;
• tryb środowiskowy ESEM - badanie preparatów wilgotnych, biologicznych, oraz takich, które zawierają substancje lotne lub oleiste.

 Osoba wykonująca badania:
dr inż. Elżbieta Żero
email: ela@ch.pw.edu.pl
tel: +48 22 234 79 74
ul. Noakowskiego 3, pok. 53
00-664 Warszawa